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2020-02-20 09:14 來源：京東作者：京東

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內(nèi)容簡介:　　《譜域光學(xué)相干層析成像（OCT）技術(shù)及應(yīng)用》主要介紹了譜域光學(xué)相干層析成像（OCT）技術(shù)的基本原理和主要應(yīng)用。在研究譜域OCT系統(tǒng)原理的基礎(chǔ)上，對譜域OCT系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)設(shè)計和性能指標(biāo)進(jìn)行了分析；對譜域OCT系統(tǒng)的信號處理方法進(jìn)行了深入研究，并對OCT系統(tǒng)二維層析圖像的重構(gòu)方法進(jìn)行了研究；搭建了高分辨率的譜域OCT系統(tǒng)實驗平臺，并對多種微器件進(jìn)行測量實驗。
　　《譜域光學(xué)相干層析成像（OCT）技術(shù)及應(yīng)用》可供精密儀器、測控技術(shù)與儀器、光電信息技術(shù)、儀器科學(xué)與技術(shù)等專業(yè)的研究人員和相關(guān)院校的師生學(xué)習(xí)參考，同時也可作為相關(guān)科技人員和精密測試工作者的技術(shù)參考書。

作者簡介:

目錄:第1章緒論
1．1 OCT技術(shù)概述
1．1．1 常用醫(yī)學(xué)成像技術(shù)的對比
1．1．2 OCT技術(shù)的特點
1．2 OCT技術(shù)的分類
1．2．1 按成像原理分類
1．2．2 按功能分類
1．2．3 按光束傳播方式和光路結(jié)構(gòu)分類
1．3 OCT技術(shù)的發(fā)展和國內(nèi)外研究現(xiàn)狀
1．3．1 國外研究現(xiàn)狀
1．3．2 國內(nèi)研究現(xiàn)狀
1．3．3 OCT技術(shù)的研究進(jìn)展
1．3．4 OCT系統(tǒng)的研究方向
1．4 OCT技術(shù)的應(yīng)用
1．4．1 生物醫(yī)療領(lǐng)域的應(yīng)用
1．4．2 工業(yè)無損檢測方面的應(yīng)用
1．4．3 信息獲取方面的應(yīng)用
1．4．4 真?zhèn)舞b別中的應(yīng)用
1．4．5 物證檢測的應(yīng)用
1．4．6 其他應(yīng)用
1．5 本書各章主要內(nèi)容

第2章譜域OCT技術(shù)的理論基礎(chǔ)
2．1 低相干干涉理論
2．2 散射近似理論
2．2．1 傅里葉衍射定理
2．2．2 散射積分方程
2．2．3 一階玻恩近似
2．2．4 散射場數(shù)據(jù)的獲取
2．2．5 多次散射對OCT系統(tǒng)的影響
2．3 傅里葉域OCT技術(shù)的實現(xiàn)方法
2．3．1 掃頻源OCT系統(tǒng)
2．3．2 譜域OCT系統(tǒng)
2．4 譜域OCT技術(shù)的散射勢獲取方法
2．4．1 復(fù)雜結(jié)構(gòu)物體散射勢的獲取
2．4．2 頻譜干涉測量原理
2．4．3 譜域OCT系統(tǒng)的信號分析
2．5 本章小結(jié)

第3章譜域OCT系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)設(shè)計和性能指標(biāo)
3．1 自由空間結(jié)構(gòu)的譜域OCT系統(tǒng)
3．1．1 自由空間結(jié)構(gòu)的譜域OCT系統(tǒng)結(jié)構(gòu)
3．1．2 譜域OCT系統(tǒng)的測量精度分析
3．2 光纖結(jié)構(gòu)的譜域OCT系統(tǒng)
3．2．1 寬帶光源
3．2．2 光纖光譜儀
3．2．3 共焦顯微鏡
3．2．4 邁克耳孫干涉儀
3．2．5 光路調(diào)整及樣品掃描裝置
3．3 譜域0CT系統(tǒng)的性能指標(biāo)
3．3．1 軸向分辨率與橫向分辨率
3．3．2 成像深度
3．3．3 信噪比
3．3．4 動態(tài)范圍
3．3．5 靈敏度
3．4 本章小結(jié)

第4章譜域OCT系統(tǒng)的信號處理方法
4．1 均勻波數(shù)空間的干涉光譜采樣及線性校正
4．2 譜域OCT系統(tǒng)的噪聲消除方法
4．2．1 譜域OCT系統(tǒng)的噪聲分析
4．2．2 鏡像噪聲的消除方法
4．2．3 直流噪聲、自相關(guān)噪聲和模式噪聲的消除方法
4．2．4 基于干涉光譜解耦的噪聲消除方法
4．3 干涉光譜的高斯整形
4．4 二維層析圖像的重構(gòu)
4．5 本章小結(jié)

第5章譜域OCT技術(shù)的實驗研究
5．1 譜域OCT技術(shù)實驗系統(tǒng)
5．2 譜域OCT系統(tǒng)的性能測試
5．2．1 光源性能測試
5．2．2 軸向分辨率測量
5．3 頻譜干涉實驗
5．4 譜域OCT系統(tǒng)的薄膜厚度測量和缺陷檢測實驗
5．4．1 常用的薄膜厚度測量方法
5．4．2 單層薄膜的厚度測量
5．4．3 多層薄膜的厚度測量及缺陷檢測
5．5 譜域OCT系統(tǒng)的潤滑油膜厚度測量實驗
5．5．1 蓋玻片表面油膜的厚度測量
5．5．2 軸承表面油膜的厚度測量
5．6 硅V形槽的測量
5．7 本章小結(jié)

第6章結(jié)論與展望
6．1 結(jié)論
6．2 展望
參考文獻(xiàn)

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