編輯推薦:　　備考指南 考點(diǎn)透析
　　數(shù)百道習(xí)題邀您輪番操練
　　診斷測(cè)試助您認(rèn)清強(qiáng)弱項(xiàng)
　　全真測(cè)試題幫您考前熱身

內(nèi)容簡(jiǎn)介:　　《Barron's 巴朗AP數(shù)理統(tǒng)計(jì)（第8版）》為巴朗集團(tuán)AP備考書系數(shù)理統(tǒng)計(jì)第八版圖書，內(nèi)容豐富全面，深度分析了各大考點(diǎn)，同時(shí)包含全真測(cè)試題，使考生可以認(rèn)清自己的強(qiáng)弱項(xiàng)。同時(shí)，在前版的基礎(chǔ)上增刪了部分內(nèi)容，更具針對(duì)性，有助于考生取得優(yōu)秀成績(jī)，是AP考生必備圖書之一。

作者簡(jiǎn)介:

　?。溃?施泰恩施泰因（Martin Sternstein Ph.D.），美國伊薩卡學(xué)院（Ithaca College）數(shù)學(xué)博士，現(xiàn)居于紐約，具備多年AP數(shù)理統(tǒng)計(jì)教學(xué)經(jīng)驗(yàn)，其編寫的AP數(shù)理統(tǒng)計(jì)教材內(nèi)容清晰、重點(diǎn)突出，深受學(xué)生歡迎。

目錄:AP考試5個(gè)必備技巧
緒論
診斷測(cè)試
答案
答案解析
AP診斷測(cè)試評(píng)分標(biāo)準(zhǔn)
選擇題診斷測(cè)試學(xué)習(xí)指南

第一章 探究分析
第一節(jié) 圖解表示
條形圖；點(diǎn)圖；直方圖；莖葉圖；中心與離差；聚類與間隙；異常值；眾數(shù)；形狀；累計(jì)相對(duì)頻數(shù)圖；累計(jì)相對(duì)頻率和偏度
習(xí)題1
第二節(jié)分布概述
中心測(cè)量：中位數(shù)和平均數(shù)；離差測(cè)量：全距、四分位距、方差、標(biāo)準(zhǔn)偏差；位置測(cè)量：簡(jiǎn)單秩、百分位秩、。分?jǐn)?shù)；經(jīng)驗(yàn)法則；直方圖和中央趨勢(shì)量數(shù)；直方圖、z分?jǐn)?shù)、百分位秩；單位轉(zhuǎn)換的影響
習(xí)題2
第三節(jié) 分布比較
點(diǎn)圖；雙條形圖；背對(duì)莖葉圖；平行盒式圖；累計(jì)頻數(shù)圖
習(xí)題3
第四節(jié) 二元數(shù)據(jù)探究
散點(diǎn)圖；相關(guān)度和線性度；最小二乘回歸線；殘差圖；異常點(diǎn)和強(qiáng)影響點(diǎn)；獲得線性度的變換
習(xí)題4
第五節(jié) 分類數(shù)據(jù)探究：頻數(shù)表
邊際頻數(shù)與分布；條件頻數(shù)與分布
習(xí)題5

第二章 研究的規(guī)劃
第六節(jié) 數(shù)據(jù)收集方法概述
普查；抽樣調(diào)查；實(shí)驗(yàn)；觀察研究
習(xí)題6
第七節(jié) 調(diào)查的規(guī)劃與實(shí)施
簡(jiǎn)單隨機(jī)抽樣；一份設(shè)計(jì)合理、易于實(shí)施的調(diào)查的特征；抽樣誤差：調(diào)查中的固有偏差；調(diào)查中偏差的來源；其他抽樣方法
習(xí)題7
第八節(jié) 實(shí)驗(yàn)的規(guī)劃與實(shí)施
實(shí)驗(yàn)VS觀察研究，。調(diào)查；混雜、對(duì)照組、安慰劑效應(yīng)與盲法；處理方法、實(shí)驗(yàn)單位與隨機(jī)化；針對(duì)兩種處理方法的完全隨機(jī)設(shè)計(jì)；隨機(jī)成對(duì)比較設(shè)計(jì)；復(fù)制、模塊化與結(jié)果的一般化
習(xí)題8

第三章 概率
第九節(jié) 概率的相對(duì)頻率
大數(shù)定理；基本的概率定律；多階概率計(jì)算；雙正態(tài)分布；幾何概率；模擬；離散型隨機(jī)變量，平均值（期望值）與標(biāo)準(zhǔn)差；
習(xí)題9
第十節(jié) 獨(dú)立隨機(jī)變量的整合
集合的和與差的平均值和方差；獨(dú)立隨機(jī)變量的和與差的平均值和方差
習(xí)題10
第十一節(jié) 正態(tài)分布
正態(tài)分布的概率；使用正態(tài)分布的圖表；運(yùn)用正態(tài)曲線區(qū)域計(jì)算器；作為度量模型的正態(tài)分布；常用概率與z分?jǐn)?shù)；找出平均值和標(biāo)準(zhǔn)差；二項(xiàng)分布的近似正態(tài)分布；正態(tài)性檢驗(yàn)
習(xí)題11
第十二節(jié) 抽樣分布
樣本比例的抽樣分布；樣本均值的抽樣分布；中心極限定理；兩獨(dú)立樣本比例差的抽樣分布；兩獨(dú)立樣本均值差的抽樣分布；t分布；x2分布；標(biāo)準(zhǔn)誤差；偏差和精度
習(xí)題12

第四章 統(tǒng)計(jì)推斷
第十三節(jié) 置信區(qū)間
置信區(qū)間的概念；比例的置信區(qū)間；兩比例差的置信區(qū)間；平均值的置信區(qū)間；兩均值差的置信區(qū)間；最小二乘回歸線斜率的置信區(qū)間
習(xí)題13
第十四節(jié) 比例與平均值的顯著性檢驗(yàn)
顯著性檢驗(yàn)的基本原理，零假設(shè)與備擇假設(shè)，盧值，單雙側(cè)檢驗(yàn)，第一、第二類型誤差與推翻錯(cuò)誤假設(shè)概率的概念；比例的假設(shè)檢驗(yàn)；
兩比例差的假設(shè)檢驗(yàn)；平均值的假設(shè)檢驗(yàn)；兩均值差的假設(shè)檢驗(yàn)（成對(duì)與不成對(duì)）；一些關(guān)于推翻錯(cuò)誤假設(shè)概率與第二類型誤差的補(bǔ)充；置信區(qū)間，。假設(shè)檢驗(yàn)
習(xí)題14
第十五節(jié) 顯著性檢驗(yàn)——x2分布與最小二乘直線的斜率
擬合優(yōu)度的x2檢驗(yàn)；獨(dú)立性的x2檢驗(yàn)；比例齊性的x2檢驗(yàn)；最小二乘直線斜率的假設(shè)檢驗(yàn)；獨(dú)立性
習(xí)題15
測(cè)試題
測(cè)試題1
答案
答案解析
測(cè)試題2
答案
答案解析
測(cè)試題3
答案
答案解析
測(cè)試題4
答案
答案解析
測(cè)試題5
答案
答案解析
選擇題與相關(guān)章節(jié)
附錄
推斷假設(shè)檢驗(yàn)
AP考試的35個(gè)技巧
AP評(píng)分指南
TI-83/TI-84的基本應(yīng)用
公式
推斷統(tǒng)計(jì)
圖解表示
表A：標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布概率
表B：t分布的臨界值
表C：x2的臨界值
表D：隨機(jī)數(shù)表
索引